<sub id="y12tl"></sub>
業(yè)務(wù)范圍
您的位置： 首頁(yè) - 業(yè)務(wù)范圍 - 珠海開普 - 詳情
公司可針對(duì)芯片和元器件等提供可靠性測(cè)試、壽命評(píng)估、失效分析以及自主可控驗(yàn)證等服務(wù)，輔助企業(yè)和用戶開展質(zhì)量驗(yàn)證和供應(yīng)商篩選。
適用產(chǎn)品類型
■ 芯片
■ 元器件
檢測(cè)能力
環(huán)境試驗(yàn)
可開展各類型電子元件的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)、可靠性試驗(yàn)
規(guī)約試驗(yàn)
可開展芯片等電子元器件的國(guó)產(chǎn)化驗(yàn)證工作
檢測(cè)能力范圍
環(huán)境試驗(yàn)
GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)
GB/T 29309-2012電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程 高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則（含隨機(jī)振動(dòng)）
GB/T 2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則
GB/T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法（用于威布爾分布）
規(guī)約試驗(yàn)
ZHKP/FF-008-002-2024/0 電氣設(shè)備元器件供應(yīng)鏈可靠性及元器件可控率等級(jí)判定方法
業(yè)務(wù)咨詢
聯(lián)系人
陳新美
聯(lián)系電話
0756-3869069
聯(lián)系郵箱
chenxinmei@ketop.cn
頁(yè)面版權(quán)所有：許昌開普檢測(cè)研究院股份有限公司 豫ICP備15015526號(hào)-1
